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RDmu-I放射性表面污染测量仪

更新时间:2021-03-10

简要描述:

RDmu-I放射性表面污染测量仪采用半导体探测器,适用于低水平α、β辐射表面污染检测和环境X、γ辐射监测。具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性。精巧的设计使同一探头能同时区分测量α、β粒子,并可即时用于环境X、γ辐射剂量水平测量。该仪器采用单片机控制,可连续进行测量数据的记录存储,并由计算机通讯获取。该设备可用于环境放射性监测、核医学、核电站、核燃料生产、运输、储存和商检等诸多领域。

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                RDmu-I放射性表面污染测量仪

RDmu-I放射性表面污染测量仪简介:

    RDmu-I放射性表面污染测量仪采用半导体探测器,适用于低水平α、β辐射表面污染检测和环境X、γ辐射监测。具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性。精巧的设计使同一探头能同时区分测量α、β粒子,并可即时用于环境X、γ辐射剂量水平测量。该仪器采用单片机控制,可连续进行测量数据的记录存储,并由计算机通讯获取。该设备可用于环境放射性监测、核医学、核电站、核燃料生产、运输、储存和商检等诸多领域。仪器控制功能还有:本底测量定时选择、污染测量定时选择、报警阈值设置、数据通讯选择、声音控制、背光控制、模拟条码显示、电池欠压指示等。

RDmu-I放射性表面污染测量仪主要特点 :

·探头与主机用60cm电缆连接,便于测量和操作,探头与主机分开便于探头污染后去污。               

·响应快速准确,阈值可调。

·响应时间可设置。

·携带方便,操作简单。

RDmu-I放射性表面污染测量仪主要技术指标:

·探测器:半导体探测器

·探头灵敏窗面积:Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可选

·探头端口边缘至灵敏窗zui小距离: 4.5mm

·探头窗铝膜质量厚度: <1.1mg/ cm2

·仪器效率: ηα≥24%(239Pu,距窗表面4.5mm );ηβ≥30%

·仪器本底: Ia型:α<0.5cpm; β≤20 cpm;Ib型: α<3cpm; β≤100 cpm

·计数量程: α、β计数率0.1~99999cpm

·X、γ辐射测量范围: 0.01μSv/h~100mSv/h,

·相对误差:≤±15%

·报警设置: α:1~200cpm,β:20~2000cpm,步长1,连续可调;

·电 源: 内置可充电锂电池,一次充电可持续工作时间≥7天;

·工作环境特性: 温度-20℃~50℃,相对湿度RH≤90%(@30℃)

·尺寸/重 量: 主机:190×93×48;探头:Φ33×150;总重:730g。

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